Измеритель параметров полупроводниковых приборов МНИПИ ИППП-1.
Измерение параметров полупроводниковых приборов (ППП) и контроль тест-структур на пластинах в процессе их производства, анализ брака. Синхронизация измерений с другими, используемыми в испытаниях, измерительными устройствами.
Особенности и преимущества
- Ограничение тока и напряжения на измеряемом объекте по установленному порогу
- Курсорные измерения
- Представление ВАХ в виде графиков и таблиц на экране персонального компьютера (ПК)
- Вычисление расчётных параметров ППП и их функциональных зависимостей по результатам измерений
- Документирование и передача результатов измерений параметров ППП в электронном виде по локальной сети предприятия
- Формирование отчёта о полученных результатах
- Создание баз данных стандартных тестов по изделиям
- Работа с анализатором не требует специальных знаний в области программирования
- 4-канальная автоматизированная система для измерений параметров полупроводников (в т.ч. тест-структур на пластинах)
- Исследование ВАХ 2-х, 3-х, 4-полюсников
- Параметры каждого канала Источник/измеритель:-U: ±2В, ±30В (200 мА)